產品詳情
簡單介紹：
GPI激光干涉儀可應用于：平面和球面的面形檢測;平面楔角測量、直角棱鏡的直角偏差和任意角度的加工偏差 ;光學材料均勻性測量;GPI激光干涉儀可應用于角錐角度和面形偏差測量 ;精密盤片質量檢驗 ;三平板優(yōu)良測量 ;雙球面優(yōu)良測量 ;靜態(tài)干涉條紋判斷 ;澤尼克多項式分析 ;球面曲率半徑測量
詳情介紹：
GPI?系列
GPI?
XP/D-ZYGO激光干涉儀的國產化之路
為了回報廣大中國客戶對ZYGO激光干涉儀產品的厚愛，ZYGO公司將其應用*廣泛、技術*成熟的經典產品--GPI? XP/D型號激光干涉儀在中國進行組裝生產。
GPI? XP/D激光干涉儀--運用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質量，傳輸波前的測量和分析。
GPI? XP/D是ZYGO在中國甚至全世界市場占有率*高的一款激光干涉儀，廣泛應用于科研教學和生產檢測中。GPI? XP/D主機為Fizeau型干涉儀，測量精度高且操作簡單，采用精密移相技術和高分辨率CCD接收器件640Х480（可以升級為1024×1024），配合功能強大的MetroPro®軟件可以獲得高重復性和高精度的測量結果，其三平板優(yōu)良測量重復性優(yōu)于λ/300，rms重復性優(yōu) 于λ/10,000。并能模擬樣品表面面形，并顯示鮮明的，可旋轉的3D彩**像，可選的剖面圖以及各種統(tǒng)計數(shù)字結果等。同時，針對特殊的樣品、 特殊的測量需求，可以為用戶設計定制特殊的測量系統(tǒng)，結合MetroPro®軟件，為用戶提供上乘的技術解決方案并獲得滿意的測量結果。
